基質輔助雷射脫附游離裝置與方案
MALDI-Based Instruments and Solutions
MALDI-TOF (基質輔助雷射脫附游離飛行時間) 質譜是一種通過使用雷射燒蝕和游離分子,來測量嵌入基質中的樣品分子質量的分析技術。它廣泛應用於高分子量化合物 (例如:蛋白質、胜肽和合成聚合物) 的鑑定和表徵。此外,它還用於識別微生物和檢查食品欺詐。
島津提供豐富的 MALDI 產品組合,從 MALDImini-1 基質輔助雷射脫附游離數位式離子阱質譜儀,在有限的佔地面積中提供最出色的性能,MALDI-8020 桌上型線性 MALDI-TOF 質譜儀,到 AXIMA 系列 MALDI-TOF 和 MALDI- TOF/TOF 質譜儀,提供簡便而精準的質量測量。
Shimadzu 的 MALDI-TOF 和 TOF/TOF 儀器對於所有需要不限樣品類別,並進行常規手動或自動分析的實驗室而言,是最經濟實惠且可靠的選擇。