奈米碳管 | 色散 | 觀察及電位量測
奈米碳管 (carbon nanotube, CNT) 及其周圍的電位，可透過掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscope, SPM) 拍攝的靜電力顯微鏡 (electric force microscopy, EFM) 影像進行量測。
圖 1 顯示 8 wt% SWNT/acrylic resin 樣品的形貌影像及 EFM 影像。
圖 2 也顯示 EFM 量測的範例，樣品是經純化的單壁奈米碳管 (HiPco) 加上雲母基板自旋塗層 DNA 溶液的混合物。(Carbon Nanotechnology Inc. 製造)
圖 1. 8 wt% SWNT/Acrylic Resin 樣品的形貌影像及 EFM 影像 (樣品提供：日本科學技術振興機構 Aida Nanospace Project)
圖 2. EFM 量測 (經純化的 SWNTs (HiPco) 及雲母基板自旋塗層 DNA 溶液) (樣品提供：名古屋大學理學院 Shinohara 實驗室)。
Scanning Probe Microscope
掃描探針顯微鏡 (SPM) 使用顯微探針掃描樣品表面，能夠獲得高倍率的三維觀察結果。
SPM-9700是新世代跨度探針顯微鏡，在快速觀察和簡單操作方面更加升級。