使用顯微樣品分析系統加上顯微紅外線光譜儀 (FTIR) 分析多層膜

多層膜常用於食品及藥品的包裝材料，這類薄膜層的成分鑑定，最常見的方法是透射法，使用顯微紅外線光譜儀量測薄膜的橫截面樣品。要測得單層的光譜，薄膜厚度需達到約 10 μm 以上。

本範例使用透射法，在鑽石砧上量測以切片機切下的多層膜樣品。為避免不同成分的相鄰層之間產生干擾，量測區域的尺寸設定為 10 μm x 10 μm。紅外光譜明確顯示出每個區域的量測結果，且雜訊極低。

顯微樣品分析系統

顯微樣品分析系統適用於量測 10 μm 至 100 μm 等級的顯微樣品。
如果使用鑽石砧，透過簡單的預處理即能夠以透射法取得良好的紅外光譜。

優異的靈敏度

即使量測區域限制於 10 μm x 10 μm 內，也能夠以高靈敏度快速量測關注點。

優異的操作性

可自動控制光圈及 XY 載物台，自動對焦及自動居中也是標準功能，操作更順利流暢。
簡便的記憶功能，可儲存多達 10 個量測位置。

系統詳細資訊

• IRAffinity-1 Infrared Spectrophotometer
• AIM-9000 Infrared Microscope
• C Type Diamond Cell
  包括分析支援程式 (異物分析程式)。