LabSolutions IR - 配備選項

時程程式用於在規律間隔收集光譜，並建立一個時程資料集，用於追蹤反應隨時間變化情況。Peak 高峰高度和 Peak 高峰面積的改變可用於計算和反應動力學相關的數值。
時程資訊可儲存並在 3D (鳥瞰圖) 或輪廓圖中顯示。可透過修改參數重新計算。
掃描間隔取決於解析度、掃描次數和鏡面移動速度。
在 16cm^-1 解析度和 9 mm/s 鏡射速度下的最快速度為 1 次累積掃描 7 秒鐘。時程軟體包含一項 3D 呈現功能。

使用島津 AIM-9000 紅外光顯微鏡時，mapping 軟體可依據位置關係，將吸收資訊映射到樣品表面上。
可在複合影像上設定 mapping 參數，例如 mapping 範圍、掃描間隔和背景位置。支援 Area mapping、line mapping 和 random mapping。
除了在傳統透射和反射模式中 mapping 以外，也可以使用選配的 ATR 目標進行微 ATR mapping。從擷取的 mapping 資料，可以提取光譜，並針對特定高峰進行官能基 mapping 計算。資料可顯示為 3D 影像或輪廓圖，或者在光譜重疊模式中顯示。Mapping 程式包括一個 3D 呈現功能。

PLS (部分最小平方) 定量是一種化學計量方法，如同多元線性迴歸分析，廣泛用於同時定量多個成分。PLS 定量程式包含 PLS I 和 PLS II 方法。可依據輸入值顯示計算值。PLS 係數依據「PRESS」值、載入向量和評分值。可針對以 PLS 方法取得的迴歸方程式進行分析。

通常紅外光光譜中的吸收峰包含重疊峰。Curve-fitting (分峰) 程式可用於將重疊的吸收峰分為個別 peak，分離受到氫鍵影響的 peak，並識別由重疊的吸收峰隱藏的官能基 peak。六種曲線可用於分離分析，例如 Gaussian、Lorentzian 和 Gaussian+Lorentzian。可依據吸收峰內的峰型態選擇曲線。分離的成分峰會與最終光譜一起顯示，因此能夠準確評估分離情況。

* 3D 顯示程式無法控制映射量測或 AIM-8800 系列紅外光顯微鏡。

3D 呈現程式提供以下功能

改變顯示資料的方法

• 資料可用鳥瞰圖 (3D)、以強度分佈或等高線輪廓線、以重疊光譜、或旋轉顯示。

• 可分離特定波數的改變。
• 功能包括資料提取、資料點減化、平滑、零基線、背景修正、標準化、對數轉換、一階或二階微分，和 ATR 修正。

• 以固定間隔量測的光譜，例如重複量測，可連續排列以建立 3D 資料。

因此定性時常有困難。
為了解決此問題，可使用 UV 照光變質塑膠資料庫，可進行高準確度定量以反映退化狀態。

食品、製藥、電機電子、機械和更多領域中，經常發生污染物造成的麻煩。有許多類型的污染物。老化、高溫和其他因素造成的塑膠部分變質，是出現污染物的原因之一。

FTIR 適合鑑別這類塑膠污染物。但熱變質 (氧化) 塑膠的紅外光光譜圖，與原材料的光譜不同。因此不會出現在市售聚合物資料庫中，且即使可以找到，可能會呈現相近但不同的光譜。基於這個理由，很難鑑定或定性判定此類塑膠。

熱變質的塑膠資料庫，包含高溫氧化塑膠的光譜。對於分析不明樣品非常有效，例如市售資料庫中未納入的高溫改變污染物及缺損產品。