IRSpirit-X Series - 特色
省空間、可擴展
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非常適合小型實驗室空間
實驗室中,對於能夠安裝在手套箱和多用途設施等狹小空間內的系統的需求不斷增長,而 IRSpirit-X 非常適合這些情況。 即使在狹窄的空間中,也可以使用垂直放置的裝置來測量樣品(見下圖)。 啟動按鈕觸手可及,濕度指示器從兩個方向都很方便觀察。 此外,ATR晶體和FTIR主機的高度相同。 因此,樣品可以直接放置在ATR配件上,該附件與樣品室整合在一起,可以屏除必須切割大樣品的麻煩。
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精巧機身且具備標準常規樣品室
儘管機身尺寸比一張A3紙還小,但樣品室寬度與高階機型相同。
這使得它與許多島津和第三方配件相容,因此能夠適用於各種應用。
FTIR 讓一切變得更簡單
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*Although IRSpirit is displayed, the operating procedures are the same as IRSpirit-X.
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*Although IRSpirit is displayed, the operating procedures are the same as IRSpirit-X.
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光譜顧問功能Spectrum Advisor Function(專利申請中)
透過將測量的光譜與最佳光譜範例進行比較來提出改善量測建議。提供有關掃描參數、配件和後處理資料的故障排除建議。藉此,可以獲得更高品質的數據。
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異物分析程式 Contaminant Analysis Program
利用具有多於550個常見汙染物質光譜之常見異物資料庫以及島津獨家的演算法 (日本專利No.5205918),可以針對待測異物進行準確的分析。數據分析後,自動做出PASS或FAIL的判斷並產生報告。 即使污染物是混合物,異物分析程式也會搜尋主要和次要成分並顯示它們的排序。 由於不需要指定混合物中的成分數量,因此不太有紅外線分析經驗的操作人員也可以輕鬆且快速地分析樣品。從選擇光譜到顯示分析結果僅需幾秒鐘。
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鑑別試驗程式 Identification Test Program
鑑定測試程式算出標準品與待測物在紅外光譜上各波峰之間波數值與強度比例的差異,並於判定 PASS 或 FAIL 後製作報告。日本食品添加劑規範和準則中包含的 57 種物質的光譜也包含在此城程式中。
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可靠且值得信賴
傳承高階機型技術
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極致穩定性能和通量
(具有每秒 5000 次的動態調整和高亮度陶瓷光源)
高靈敏度型號
標準型號 (IRSpirit-TX)
(具備溫控功能的DLATGS偵測器) -
石蠟油中矽油含量的 ATR 光譜(重複測量五次)
透過重複單反射ATR方法五次獲得石蠟油中的矽油含量 (1.0%)。 使用具有溫度控制的 DLATGS 檢測器獲得的數據顯示在左側,使用沒有溫度控制的 DLATGS 檢測器所獲得的數據顯示在右側。 在沒有溫度控制的情況下,儀器內部熱量和環境溫度導致基線數據波動較大。相較之下,使用具有溫度控制功能的偵測器會產生高度再現性的資料。
防潮設計帶來高耐用性
設計堅固耐用的光學元件確保系統即使在惡劣的溫度和濕度條件下也能可靠使用。
- KBr 分光鏡包含防潮塗層 (IRSpirit-TX/LX),或 ZnSe 分光鏡 (IRSpirit-ZX)*1
- 光學器件密封在鋁壓鑄外殼中
- 狀態監控功能具有軟體監控程序(包含光學艙內濕度值)電子指示器。
- 可選擇 KBr 視窗(至 70% RH)或 KRS-5 視窗(至 90% RH);兩者均包含防潮塗層。*2, *3
- 可選配電動除濕器。*4
*1 配備 ZnSe 分光鏡的 IRSpirit-ZX 的測量波數範圍為 6,000 至 550 cm-1。
*2 無結露。
*3 KRS-5 窗口板與 IRSpirit-ZX 一起使用。
*4 IRSpirit-ZX 不需要。
視窗 | ||
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耐濕性 | 具防潮塗層 安裝現場濕度最大限度:70%RH (無結露) |
安裝現場濕度最大限度:90%RH (前提是溫度高達 30 ℃ 時不會出現凝結) |
波數範圍 | 350 to 7,800 cm-1 | |
穿透率 | About 90 %T | About 70 %T |
特性 | ・高穿透率、高靈敏度 ・潮濕環境下會潮解 |
內部除濕器確保耐用性
此除濕器使用固體聚合物電解膜以電解方式去除乾涉儀內部的水分。它可以在不打開光源的情況下保持干涉儀內部的低濕度。與保持光源點亮相比,單獨使用除濕器可減少約 90% 的功耗。請注意,因為 IRSpirit-ZX 採用的 ZnSe 分光鏡具有高耐濕性。
儀器狀態監控
儀器於初始化時可自動驗證診斷所有部件狀態並且儲存報告。此功能對於儀器管理特別方便,也包括方便日常檢查的符合藥典的驗證程序。
自我診斷功能
儀器初始化時,可進行自我診斷之後執行訊號統、光學系統檢查。取得儀器各部件資訊之後,並自動生成一個檔案,讓儀器狀態管理變得簡單。且儀器的歷史狀態也可回溯確認。
狀態監視功能
可即時連續監控管理儀器之光源、雷射元件、儀器內部濕度、樣品室窗板定位 (interlock) 以及應用附件資訊。