IRTracer-100 - 特色
IRTracer-100 傅立葉轉換紅外線光譜儀
卓越的感度與可靠性
實現 SN 比 60,000：1 之高靈敏度測定※1
使用 IRTracer-100 與單次反射ATR附屬裝置測定礦物石蠟油內含有之超微量矽油。
僅以吸光度 0.00015 這樣極度微弱之矽油產生的峰值 (1260 cm-1)，即可測得高 SN 比。
※1 解析度4 cm-1，1分鐘累計積算，2,200 cm-1附近，峰對峰值 (peak-to-peak)。
備考：
- 減去礦物石蠟油之光譜
- 使用 DLATGS 檢出器，解析度4 cm-1時測定
結合先進的動態校準系統
Shimadzu IRTracer-100 的頂級動態校準監控系統可提供最穩定的光譜品質。採超過 5,000 次/秒 Advanced Dynamic Alignment 技術，使 IRTracer-100 保持最佳工作狀態。
內置自動電解除濕系統
與IRAffinity-1S 配置相同之電解除濕系統，解決了FTIR干涉儀中分光鏡容易受潮之問題。保持干涉儀的長期穩定性同時，也降低耗材使用率。
滿足各類應用分析需求
UV 光照固化反應率 insitu 量測
用鏡面反射法測量在薄層金屬板上塗覆的市售丙烯酸酯基紫外線固化樹脂在固化過程中產生的紅外線光譜。以金屬板為基材進行背景測量後，在金屬板上塗覆薄層的樹酯樣品。於紫外線照射 5 秒鐘後開始連續採集測量紅外線光譜之變化。
紫外輻照樹脂固化反應中快速掃描測量的三維譜圖
樣品紅外線光譜放射率量測
通過與黑體爐發射的光比較來測量樣品的光譜放射率。(黑體爐的能量可當背景扣除)
黑體爐和樣品的最低量測溫度可設定為攝氏 200 度。
建議使用板狀樣品以確保樣品表面溫度的均勻性。
- 左表：黑體爐在不同溫度下的放射光譜
(能量圖) - 右圖：氧化鋁陶瓷樣品的光譜放射率