RID-20A - 特色
高感度示差折射率檢測器
縮短穩定時間並提高基線穩定性
RID-20A 對光學系統採用雙重溫控，大幅減少開機後所需的穩定時間。
穩定的基線提供了對分子量分佈的準確分析。
縮短暖機時間並提高基線穩定性
光學系統安裝在雙溫控區塊內。進入移動相的溫度分兩階段控制；因此相較於傳統系統，穩定時間大幅縮短。這種雙重溫控也有助於大幅降低基線漂移，進而提高分析數據的可靠度。
Shimadzu 專有技術，支援高感度微量分析與製備級分析應用
RID-20A 的四分區檢光器可偵測較大的折射率範圍 (0.01 至 5,000 μRIU)。單一檢光器可支援所有應用，共三種操作模式：從高靈敏度分析到製備級分析。
| A (Analytical) Mode | High-sensitivity to general-purpose analysis |
|---|---|
| P (Preparative) Mode | High-concentration analysis, semi-preparative analysis (up to 20 mL/min) |
| L (Large-prep.) Mode | Flow selection block allows large-volume preparative analysis. (up to 150 mL/min) |
4 分區檢光器元件
RID-20A 的檢光器元件分為四部分，可以自動調整受光的區域。A 模式 (用於高靈敏度分析) 的分區從左到右分組 (A+C 和 B+D 的組合)，P 和 L 模式 (用於製備分析)，分區從上到下分組 (A+B 和 C+D 的組合)。在 P 和 L 模式，由於進行量測時可以忽略元件中心線的位置，因此可以處理高濃度樣品的高折射率。