WingSALD II - 特色
WingSALD II Data Processing Software for SALD Series
自動折射率計算功能免於選擇折射率
使用雷射繞射方法時，選擇折射率是無可避免的部分，通常會輸入已經發表的數值，但考量到顆粒組成和形狀的影響，這些數值不一定適用。因此會使用繁瑣的試誤流程選擇折射率。WingSALD II 透過納入全球首創的功能，依據 LDR 方法 (光強度分佈重現方法) 自動計算適當的折射率，可解決此類問題。
註：
LDR 方法依據實際測得光強度分佈和從粒徑分佈資料重現 (重新計算) 的光強度分佈，自動計算適當的折射率。此方法由島津研發，並已在兩篇技術論文中發表。學術界有時將此方法稱為「木下法 (Kinoshita Method)」，這是島津工程師的姓氏。
測量輔助功能可用於準備 SOP，以確保始終使用相同條件和程序進行測量
建立、儲存和分享測量條件及程序，包括預處理方法和條件，即使由不同操作人員或在不同地點或廠區進行，也可確保使用相同條件和程序進行測量，並可安全比較資料。還有，使用測量輔助功能時，會在螢幕上為操作人員顯示測量說明。這可讓經驗不足的操作人員正確進行測量。此外，可為管理員和操作人員指派不同操作權限以確保安全。
註：SOP 是標準作業程序的縮語詞。
從多面向評估測量資料
- 散射角的評估
- 畫出每個角度散射光強度的組成。這利用高度整合發光二極體陣列的特色，可用高解析度評估低角度散射光。
應用領域：評估薄膜和平板的散射特性 - 資料模擬功能
- 依據 SALD 系列測量結果，此功能可模擬使用其他方法和測量原理取得的測量結果。這可維持與先前測量方法的資料相容性。
- 混合資料模擬功能
- 可以使用多重粒徑分佈的任何混合比，模擬粒徑分佈。如此可以決定取得所需粒徑分佈的最佳混合比，而不需要重複實際測量樣品混合物之粒徑分佈。
- 資料連結功能
- 可結合任何粒徑點下兩個不同測量範圍的測量結果，以建立單一粒徑分佈。例如 2,000 μm 以上的顆粒之篩選資料，可和 SALD 系列的 2,000 μm 以下顆粒資料結合，建立土木工程、防災和環境領域所需的寬廣範圍粒徑分佈。
更有效率處理多重資料集
可將多重資料集儲存為一個群組。
可更容易進行資料的整理、重新顯示和重新分析。
資料可載入為群組，並同時顯示或分析，而不需要分開載入每個資料集。
可透過參考光強度分佈資料 (原始資料) 驗證測量結果 (粒徑分佈資料) 的有效性
由於可在相同畫面顯示光強度分佈資料 (原始資料) 和測量結果 (粒徑分佈資料)，可在同時檢視這兩個資料集時驗證測量結果。這不僅可以驗證偵測訊號等級 (顆粒濃度) 是否適當，也可以從多重層面確認測量結果的有效性，例如分佈寬度，以及是否出現凝集體和污染物。