Film Measurement
薄膜量測
本軟體根據薄膜引起的干涉圖型峰值位置,計算薄膜厚度。可透過使用指定波長範圍內之所有高峰和低谷波長,以最小平方法計算薄膜厚度。適用於 UV-2600 系列/2700 系列/3600/3600Plus 系列、SolidSpec 系列 PC 軟體 (相容作業系統:Windows 10 (64 位元) / Windows 7 (64/32 位元))。
News / Events
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化工化學環檢專場:原子吸收光譜線上研討會暨 AA-7800 新品發表
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化工化學專場:UV膠、高分子材料、QA/QC 暨 FTIR 新品發表
我們將在 2022 年 10 月 21 日 舉辦「線上化工化學專場研討會暨新品發表」,敬邀您一同參與!
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電子電機專場:FAE、QA/QC 暨 FTIR 新品發表
我們將在 2022 年 9 月 23 日 舉辦「線上電子電機專場研討會暨新品發表」,敬邀您一同參與!
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