UV-2600i, UV-2700i - 特色

更高的性能

UV-2600i 與 UV-2700i 搭載島津獨家專利的 Lo-Ray-Ligh 繞射光柵，能降低迷光造成的吸光度誤差，搭配高靈敏度的光電倍增管 (PMT) 偵測器，讓線性範圍大幅增加。UV-2600i 線性範圍可達 5 Abs (OD 值)，UV-2700i 更可達 8.5 Abs。更適合測定極低穿透度 (高吸光度) 樣品如：濾光片、偏光片、抗反射膜 (AR 膜) 等。

利用 UV-2700i 量測過錳酸鉀 (KMnO₄₎ 水溶液在 525 nm 之吸光度，當濃度達 520 mg/L 時，吸收度達 8 Abs 也能維持線性。

利用 UV-2700i 量測偏光片吸光度，在低穿透率的交叉偏光片 (Crossed Nicols) 吸光度達 5 Abs (穿透率 0.001%) 也能得到高品質且低雜訊的光譜。

UV-2600i 搭載島津專利的 Lo-Ray-Ligh 繞射光柵，搭配對應的偵測器，波長範圍最大可擴充至 1,400 nm。對於光電、半導體等相關分析應用如：太陽能電池抗反射膜、濾光片、半導體能隙……等應用是絕佳的工具。

左圖：利用 UV-2600i 測定多晶矽樣品的穿透率，藉由達 1,400 nm 的測定範圍，可清楚辨別位於 1,000 nm 的能隙區域 (Band gap region)。

左圖：利用 UV-2600i 測定光學玻璃 (紅色)、IR-cut 鍍膜玻璃 (綠色、藍色) 的穿透光譜。UV-2600i 擴展至 1,400 nm 的光譜範圍更適合有效確認紅外光區域的穿透率。

島津的 Lo-Ray-Ligh 繞射光柵 (粉紅色)，相較於傳統機械切割光柵 (綠色)，能大幅降低迷光。可呈現出接近理想值的倒 V 型分佈。

島津光學部門專利的 Lo-Ray-Ligh 繞射光柵，源自於島津歷史悠久的全息光柵 (Holographic Grating) 製造技術。早在 1975 年，島津與日本理化學研究所合作，領先全世界發展出以離子束蝕刻法 (Ion beam etching) 製造全息光柵的技術。相較於傳統的機械切割光柵 (Ruled Grating)，除了能得到相同的繞射效果，更能大幅降低迷光。