Q:我使用顯微透射測量時會得到極高的雜訊。這是什麼造成的？

A :

聚光鏡調整不良，是顯微透射測量期間高雜訊的原因之一。在顯微透射測量期間，即使異物在可見光影像中明顯可見，光也可能未聚焦。此時在樣品台下調整聚光鏡。一般而言，在顯微鏡安裝期間，若樣品台上沒有放置孔徑板，會調整聚光鏡將光聚焦到 MCT 偵測器元件上。(參見圖 1 左圖。) 放置孔徑板進行測量時，光徑長度會因為孔徑板材質的不同折射率而改變，以致聚焦點位移，如圖 1 右圖所示。(空氣的折射率為 1.0，但鑽石槽為 2.38，而 BaF2 窗口為 1.42。) 若在此情況下進行測量，光強度會降低，且得到的光譜中雜訊增加。

在島津紅外線顯微鏡中，在可見光影像中觀察到針孔時 (圖 2 左圖)，光正確聚焦且光軸對準。這可達到最佳靈敏度。

圖 3 顯示光正確和未正確對焦時的光譜比較。樣品為鑽石槽內的微量異物。使用 10 × 10 µm 孔徑大小測量。兩個光譜的比較顯示，未正確調整光聚焦時，雜訊極高。

上述調整方法隨儀器而異。若使用非島津產品，請洽詢紅外線顯微鏡的製造商。

圖 1：顯微透視測量的光徑

圖 2：調整可見光影像上的針孔

圖 3：異物的顯微透射光譜