SALD-7500nano - 特色
SALD-7500nano 奈米粒子徑分布測定裝置
寬廣測量範圍：7 nm 至 800 μm 從初級顆粒至次可見顆粒與污染物。
- 可使用單一光源、單一光學系統和單一測量原理，連續測量涵蓋 7 nm 至 800 μm 測量範圍的粒徑變化。
- 由於可用一組系統測量初級顆粒和凝集體及污染物，可以檢查分散條件下之凝集屬性。
通過即時顯示及寬測量範圍來評估粒子的分散和聚集特性
單一偵測表面連續擷取最大 60° 角的前方散射光
單一測量原理、單一光學系統和單一光源可無縫涵蓋目標粒徑範圍。此外，由於 SALD-7500nano 未包含會在資料中產生不連續性的多重光學系統，可使用單一標準，在整個測量範圍內達成準確粒徑分佈測量。依據精細散射光強度追蹤技術的 SLIT* 光學系統應用，打破傳統思維，以在單一偵測器表面上，連續擷取前方最大寬 60° 角的散射光。這可在精細顆粒範圍中達到高解析度。
* SLIT (散射光強度追蹤)
高解析度 / 高靈敏度 Wing Sensor ll
前方繞射/散射光會由具有 76 個元件的「Wing Sensor II」感應器偵測，這是使用最高等級的半導體製造技術開發的。這個感應器可用高解析度偵測大幅波動的小角度前方散射光，並以高靈敏度偵測低光學強度的廣角散射光。還有，側邊散射光由一個感應器元件偵測，而後方散射光由四個感應器元件偵測。以總計 81 個感應器元件準確擷取光強度分佈圖樣，可在寬廣顆粒直徑範圍內，進行高度精準的粒徑分佈測量。
更穩定的光學系統
全向式避震框架 (OSAF) 可為光學系統的所有元件完全隔離衝擊和震動。這可去除有關調整光軸的疑慮。
內建自我診斷功能確保容易維護
這些分析儀包含強大的自我診斷功能。可檢查感應器和偵測元件發送的輸出訊號以及儀器操作狀態，協助更容易維護。使用操作日誌功能，可包含有關儀器使用狀態和容槽污染之詳細資訊以及所有測量資料，因此可以調查過去取得的測量資料之有效性。
符合雷射繞射方法 ISO 13320 和 JIS Z 8825-1
SALD-7500nano SALD-7500nano 符合 ISO 13320 和 JIS Z 8825-1 雷射繞射及散射標準。
可用 JIS 標準顆粒驗證
系統效能可用 JIS Z8900-1 中指定的 MBP1-10 標準顆粒確認。這些樣品具有由 JIS 標準指定的寬廣粒徑分佈。使用這些樣品可驗證儀器始終維持準確。
可透過參考光強度分佈資料驗證測量結果的有效性
由於可在相同畫面顯示光強度分佈資料 (原始資料) 和測量結果 (粒徑分佈資料)，可在同時檢視這兩個資料集時驗證測量結果。這可讓使用者驗證偵測訊號等級 (顆粒濃度) 是否適當，並可從多重層面確認測量結果的有效性，例如分佈寬度，以及是否出現凝集體和污染物。
寬廣的應用適用性
系統配置可最佳化以處理多種用途、目的、測量對象、環境及條件。
去除選取折射率的錯誤或麻煩
自動折射率計算功能
使用雷射繞射方法時，選擇折射率是無可避免的部分，通常會輸入已經發表的數值，但考量到顆粒組成和形狀的影響，這些數值不一定適用。因此會使用繁瑣的試誤流程選擇折射率。
WingSALD II 透過納入全球首創的功能，依據 LDR (光強度分佈重現) 方法自動計算適當的折射率，可解決此類問題。
| 註: | LDR 方法依據實際測得光強度分佈和從粒徑分佈資料重現 (重新計算) 的光強度分佈，自動計算適當的折射率。此方法由島津研發，並已在兩篇技術論文中發表。學術界有時將此方法稱為「木下法 (Kinoshita Method)」，這是島津工程師的姓氏。 |
