EPMA-1720 - 特色
EPMA-1720 電子微探儀
最佳 X 光光譜儀設計提供高度靈敏且準確的分析
維持對分析效能非常重要的 52.5° X 光輸出角度。
Johanson 類型分析晶體達到完美收斂。
島津應用其在公司長期研發的獨特晶體製造專業知識，提供可同時達到高靈敏度和高解析度的分析晶體。Johanson 類型分析晶體可達到完美收斂而沒有像差。
EPMA-1720 可容納最多五組 4 吋光譜儀，同時提供高靈敏度和高解析度。
X 光光譜儀內的 Rowland 環半徑，是影響 EPMA 分析效能的一項重要因素。將 Rowland 環的半徑增加一吋，會讓偵測靈敏度降低超過 30%。島津 EPMA 儀器可容納最多五組 4 吋光譜儀，以涵蓋整個光譜範圍。
前所未見的簡易操作提升從 SEM 觀察到分析的工作效率
光學顯微鏡影像和 SEM 影像在相同監視器上出現。靈敏度極高。
按一下滑鼠開始 SEM 造影。
只需按下 [Auto SEM] (自動 SEM) 按鈕就可使用預設條件開始 SEM 造影。
簡單、快速且準確調整射束電流，同時維持聚焦
直接指定目標射束電流，以快速準確自動設定。連鎖控制確保改變射束電流時維持聚焦。
為所有分析提供簡單且易於了解的操作
此系統配備一些全新功能，可進行簡單且易於了解的操作。這些包括進階操作效能，只需滑鼠就可控制全部操作，以及設計易於了解的使用者介面，和內建的簡易模式分析。雖然簡單到可讓初學者使用，但也支援由經驗豐富的使用者進行精細分析。
- 可輕易進行從樣品安裝到報告產生的一切操作。
- 即使初學者也能輕易執行從樣品搜尋到 SEM 造影的一切操作。
- 前所未有的操作性可在開始分析前大幅提升操作效率。
- 使用者介面的視覺設計容易了解。
- 配備簡易模式分析，可自動化包含產生報告在內的全部流程。
