SPM-8100FM - 特色

SPM-8100FM 高感度掃描型探針顯微鏡

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高解析度

  • 使用 FM-AFM 方法
  • 空氣和液體中的雜訊可降低到現有方法的二十分之一
  • 即使在空氣和液體中，也能達到真空類型 SPM 的效能等級！

改進可用性

  • HT 掃描儀的安裝可擴展觀察面積並提升速度
  • 雙重監視器和訊號能力，更高的彈性

溶液中的原子解析度觀察


針對飽和液態溶液中，NaCl 表面上的原子排列進行觀察。現有 AFM 觀察中 (AM 方法，左) 被雜訊隱藏的原子，使用 FM 方法 (右) 時清晰可見。FM 方法提供真正的原子解析度。

在空氣中觀察鉑觸媒顆粒

KPFM: Keivin Probe Force Microscope

識別 TiO 2 基質中的鉑觸媒顆粒，並使用 KPFM 測量表面電位。觀察數 nm 大小的鉑顆粒與基質交換電荷。在右圖中，紅色圓圈指示正電位，而藍色圓圈指示負電位。可明顯看到即使對於 KPFM，解析度也大幅改善。
 

註：KPFM 功能僅透過客製化訂購提供。

參考文獻

  • Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).
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