SPM-8100FM

SPM-8100FM 高感度掃描型探針顯微鏡

看到栩栩如生的奈米世界

全新 HR-SPM 掃描探針顯微鏡使用頻率偵測。
本儀器不僅能夠在空氣或液體中進行超高解析度觀察，而且首次能夠觀察固液介面處的水合/溶劑合層。

現有的 SPM (掃描探針顯微鏡) 和 AFM (原子力顯微鏡) 通常使用 AM (振幅調變)。不過原則上，FM (頻率調變) 測量方法可達到較高的造影解析度。

SPM

：

掃描探針顯微鏡

AFM

：

原子力顯微鏡

：

振幅調變

：

頻率調變

特色

高解析度

使用 FM-AFM 方法
空氣和液體中的雜訊可降低到現有方法的二十分之一
達到真空類型 SPM 的效能等級
改進可用性

HT 掃描儀的安裝可擴展觀察面積並提升速度
雙重監視器和訊號能力，更高的彈性
溶液中的原子解析度觀察

針對飽和液態溶液中，NaCl 表面上的原子排列進行觀察 ......
在空氣中觀察鉑觸媒顆粒

識別 TiO2 基質中的鉑觸媒顆粒，並使用 KPFM 測量表面電位 ......

更多詳情

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