SPM-9700HT - 特色
SPM-9700HT 掃描探針顯微鏡
高通量掃描儀可縮短觀察時間
由於新研發出可達成高速反應的高通量掃描儀，和最佳化軟體與控制系統設計，現在可用傳統 5 倍以上的速度擷取影像資料 (我們的比值)。掃描儀可輕鬆更換，也可以將高通量 (HT) 掃描儀加入現有的 SPM-9700 裝置，以提供高通量觀察。
分析範例
氣相沉積金屬膜的表面粗糙度分析
使用 1 Hz 和 5 Hz 的掃描率觀察氣相沉積金屬膜的表面拓樸。
品質和表面粗糙度分析結果相等。
光柵表面拓樸測量
在 1 Hz 和 5 Hz 的掃描速率下觀察光柵表面拓樸。由截面剖繪分析進行的測量顯示兩者提供相同結果。
高穩定性和高通量
透過整合在頭部的光槓桿系統和懸臂，可透過滑動頭部直接更換樣品。由於可更換樣品而不需要關閉雷射光束，即使更換樣品後，雷射照射特性仍維持高度穩定。這可去除與停止雷射相關的重新調整光軸或其他參數需求，表示可縮短分析時間。
高度穩定性
- 即使更換樣品時，雷射仍維持穩定並照射懸臂。
- 設計可防止振動、噪音、氣流和其他外部干擾，因此不需要特殊的圍阻外殼。
- 主機包含內建隔振器。
Secret to the High Throughput of the SPM-9700HT
針對簡易操作最佳化的出色機構
－更換樣品的差異之通量比較 －
懸臂安裝夾具
這款夾具可確保輕易且穩固安裝懸臂。
- 將懸臂放在滑槽上。
在這個階段暫停一下！
在這個步驟可以再次釋放並夾住懸臂！
- 將懸臂從滑槽移到托架。
(懸臂已適當設置！)
- 緩慢按下加壓棒設定桿。
加壓棒釋放銷會歸位，且懸臂將固定。
適用的懸臂托架
適用於 AFM 的標準托架、適用於電流的托架、適用於微小電流的托架，適用於 KFM 的托架
- 註：夾具無法用於溶液容槽的懸臂托架。
產品配置
1) 安裝夾具主體 *1
2) 用於調整的六角扳手 *4
3) 收納盒 *1
4) 說明手冊 *1
* 專利申請中
使用滑鼠操作多種 3D 渲染功能
可使用滑鼠將影像自由旋轉、縮放和改變 Z 軸放大倍率，以直覺調整檢視角度或放大程度。使用精密的分析工具，例如紋理功能，可將樣品物理特性與高度資訊重疊，或者 3D 截面剖繪分析功能，大幅改進影像驗證作業的效率。
縮放
旋轉
改變 Z 軸放大倍率
紋理功能
高度資訊可和有關其他物理特性的資訊重疊顯示。可以清楚顯示兩項參數之間的關係。
3D 截面剖繪分析
可在 3D 影像中分析截面剖繪。若以紋理表示物理特性資訊，可在相同位置顯示並分析相應的截面剖繪。
奈米 3D 測繪
奈米物理評估系統
視覺化表面或介面上奈米區域的物理特性
可透過在掃描探針顯微鏡懸臂探針與樣品的距離改變時，測量作用在探針上的力，
評估外部或邊界表面的物理特性 (力曲線測量)。
- 可透過測量特定目標位置上的力曲線，評估該點的附著力和楊氏模數 (點分析)。
- 透過在多個點擷取力曲線，可以建立物理特性的二維地圖 (測繪分析)。
- 擷取的資料可用三維顯示，或者可以抽取特定資料進行資料分析 (3D 分析)。
在膜上任何點評估物理特性
在膜表面上任意點測量力曲線。結果顯示在各點的附著力不同。
同樣的，也可以在小型軟質樣品上評估物理特性，例如生物聚合物。
3D 分析
儲存擷取用於測繪的所有力曲線。
因此可用三維顯示資料，或者可以抽取特定截面進行資料分析。
塑膠膜的物理特性測繪
測繪分析可用於測量附著力和楊氏模數以及表面地形。圖片顯示在塑膠膜表面上僅 300 nm 寬的局部區域內，楊氏模數的定量視覺化。(樣品來源：MORESCO)。
應用範例：評估聚合物材質表面的均勻度
膠帶的黏著部分
這些影像來自膠帶黏著部分的評估。顯示附著力的分佈不均勻。這展現出如何使用系統，評估使用傳統方法難以評估的附著特性。
主要規格
| Scan (Z) range | Settings method | Specify end point and width, and automatically track end point | |
| Range | Depends on scanner | ||
| Scanning speed | Frequency setting | 0.1 to 100 Hz | |
| Frequency setting step size | 0.1 Hz | ||
| XY movement | Settings method | Numerical entry, or speciƒed with mouse on SPM image | |
| Range | Depends on scanner | ||
| Display | SPM image data, force curve waveform, measurement parameters, and data analysis results | ||
Mapping
| Measurement | Physical quantities measured | Adsorption force, slope of force curve, Z-position, or elastic modulus |
| Range | Depends on scanner | |
| Resolution |
512 x 512, 256 x 256, 128 x 128, 64 x 64, 32 x 32, 16 x 16
8 x 8, 4 x 4, 2 x 2 |
|
| Display | SPM image data, force curve waveform, and measurement parameters | |
輕鬆操作可減少從觀察到分析之間的干擾
指引功能可指引使用者進行程序、導覽功能可去除有關觀察位置的不確定性，以及其他特色可協助確保快速順暢進行觀察。
使用革命性的任意佈局使用者介面 (GUI)，提供涵蓋線上觀察到離線分析的操作之無限制支援。這表示可從觀察操作 SPM，以決定觀察位置，並取得觀察結果而不會產生混淆。
從開機到觀察和分析，可以僅使用滑鼠點擊操作 SPM，不需要任何複雜的設定
(1) 開機
在 [Manager] (管理者) 視窗內選擇觀察模式。
(2) 設置
遵循指引視窗中指示的步驟，以輕易完成設置。
(3) 開始觀察
按下 [Observation Start] (觀察開始) 按鈕自動進行從接近到觀察的所有操作。
(4) 顯示
可以檢視過去取得的影像資料，不需要切換離線。
(5) 離線分析
提供顯示、處理和分析影像的多種功能，用於抽象且量化表現觀察結果。
(1) 觀察視窗
同時可顯示最多 8 張影像。這表示可以在掃描時，比較多張影像中的表面形狀和物理特性。
(2) 導覽器
導覽器清楚顯示正在觀察什麼區域。由於可以顯示先前觀察的影像，可以得到整個樣品的概覽畫面。
(3) 線上剖繪
觀察樣品時，可以在線上視窗測量截面剖繪。
(4) 影像歷史記錄
可以在目前觀察影像旁邊，顯示過去的影像資料以進行比較。
(5) 力測繪
可為觀察影樣資料中的每個點測量力曲線，以擷取樣品機械特性或附著力分佈 (客製化訂購)。
(6) 向量掃描
可設定掃描方向、探針與樣品之間的力，或施加的電壓，以依據程式掃描 (客製化訂購)。
符合多種需求的功能和擴充性
不論多種樣品可能具有什麼特性，例如硬度或導電性，豐富的測量模式選擇和優異的擴充性可協助確保可靠測量。
透過豐富的測量模式，可以取得影像顯示樣品形狀以外的其他資訊，例如電流或電位位準，或表面硬度或黏度特性。
標準規格
Contact Mode
Dynamic Mode
Phase Mode
Lateral Force Mode (LFM)
Standard specification
Force Modulation Mode
選配功能
Nano 3D Mapping
Current Mode
Surface Potential Mode (KFM)
選配功能
Magnetic Force Mode (MFM)
Vector Scanning (special order)
Petri Dish Type Solution Cell (special order)
Electrochemical Solution Cell
接著按下加壓棒釋放銷。
(懸臂加壓棒抬高。) )