SPM-9700HT - 配備選項
SPM-9700HT 掃描探針顯微鏡
粒子分析軟體從 SPM-9700 影像資料抽取多重粒子，並為每個粒子計算特色數值，然後分析並顯示。這對於統計處理資料特別有用。可計算、表列、排序或繪製以下多種特色數值和其相應統計量。數值資料可匯出。
分析範例
在管控環境中的 SPM 觀察
透過加入環境管控腔室，可將 SPM-9700 掃描探針顯微鏡升級為 WET-SPM 系列系統。只有針對管控腔室內操作最佳化的 SPM-9700 才能達成，其納入島津專有的頭部-滑槽機構、從前方面板操作、全自動接近和開放頭部設計等特色。
特別適合容易受到空氣或濕氣影響的樣品。
環境管控腔室 CH-II / CH-III
這些環境管控腔室 CH-II (不含 TMP) 及 CH-III (含 TMP) 專為 SPM-9700 系列設計，做為配備內建減振器的腔室系統。可經由腔室後方輕易安裝 SPM 裝置，將可能應用從大氣 SPM 擴展到環境管控 SPM。如此不僅能控制樣品，也可控制其整個周圍環境，可以在管控環境中處理樣品並立即以 SPM 觀察 (日本專利字號 2612395 和美國專利字號 5200616)。透過大型檢視窗口和雙臂手套，可以在腔室內隨意預處理樣品。還有，透過加入與環境管控腔室相容的選配產品，可以做為原位 SPM，以監測表面對物理量改變產生反應時的變化，例如溫度、濕度、壓力、光和濃縮。SPM 裝置可以從腔室後方輕鬆裝載和卸載，可同時用於周圍大氣和管控環境觀察。
腔室配置圖
規格
溫度和濕度控制器
控制器連接到環境管控腔室，以控制腔室內的溫度和濕度。
在環境管控溫度和濕度下進行 FC 膜觀察
觀察 Nafion 膜由於濕度改變產生的表面形狀變化。在每個情況下觀察高度約幾個 nm 的顯微特徵，但影像顯示濕度增加導致更平滑特徵且更膨脹。
聚合物膜
使用管控溫度和濕度環境觀察聚合物膜的形狀變化。
噴氣裝置
噴氣裝置連接到備用孔，將少量氣體噴灑到樣品上。
鎳表面變化的即時觀察
即時連續觀察鎳表面對氣體的反應。還原後的乾淨表面 (左) 上開始噴灑一氧化碳時，隨著羰基複合物形成，可觀察到形狀變化 (右)。(資料由先前的國家材料與化學研究院提供)
樣品加熱與冷卻裝置
樣品可以裝載到裝置內，並且加熱或冷卻。
冷卻塑膠的觀察
黏性影像中觀察到兩個分離相
冷卻後，黏性幾乎沒有差異。
樣品加熱裝置
樣品可以裝載到裝置內並且加熱。取決於樣品，裝置甚至可在大氣條件下操作。
加熱聚合物膜的觀察
相位影像 (右) 清楚顯示樣品加熱時，樣品表面物理特性的變化。
照光裝置 (不包含光源或光纖)
此裝置可以使用光纖光源照射樣品表面。可在大氣條件下操作。
紫外光照射 SrTiO3 上的稠五苯薄膜之觀察
稠五苯薄膜是由兩個或三個 1.6 nm 厚度層團簇形成。以波長 365 nm 的紫外光照射時，團簇結構會逐漸開始分離。40 分鐘後，薄膜團簇幾乎完全消失。這段時間內會有細微偏移，並可使用視野觀察。(資料由東京工業大學尖端研究中心松本祐司博士提供。)