Kratos AXIS Nova

Imaging X-Ray Photoelectron Spectrometer

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Kratos AXIS Nova

X 光光電子光譜分析 (XPS) 也稱為用於化學分析之電子光譜分析 (ESCA)，是適用於材質特性描繪的成熟且常用表面分析技術。XPS 提供材質最上方 10 nm 的定量元素和化學狀態資訊。AXIS Nova 光電子光譜儀可針對在技術所需之超高真空條件下穩定的任何材質，收集 X 光光電子光譜和影像。

 

最先進的效能

操作簡易的 AXIS Nova，具有自動化樣品裝載、用於輕易定位樣品的正交攝影機和直覺的資料擷取軟體。AXIS Nova 獨特設計的 110 mm 直徑樣品平台，提供無與倫比的大型樣品處理能力和高樣品通量。這些屬性都不會降低領先市場的效能。AXIS Nova 具備高靈敏度、優異的能量解析度，且能夠進行快速、高空間解析度造影。可滿足大部分具挑戰性應用的分析需求。

特色

  • 靈敏度
    靈敏度
    AXIS Nova 的設計可在大分析面積下提供極佳效能，可有效率收集光電子，同時在光譜分析和 XPS 造影模式下提供高靈敏度。
  • Resolution
    解析度
    光譜分析和造影模式中的最佳解析度，是任何光譜儀的最重要基礎特性。AXIS Nova 優異的光譜分析能量解析度，可準確並重現測量用於決定表面化學的小化學位移。
  • Simplicity
    簡單
    AXIS Nova 使用 ESCApe，這是所有 Kratos 光電子光譜儀共同具備的擷取、處理和報告軟體。
  • Automation
    自動化
    AXIS Nova 的自動化，確保分析儀容易操作。
  • Additional Capabilities
    其他能力
    雖然 AXIS Nova 主要設計進行高通量、高效能 XPS，但可加入其他分析能力，而不會降低效能。可加入紫外光 He 放電燈，以收集共價鍵的紫外光光發射光譜 (UPS)，以及功函數測量。
更多詳情
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