EPMA-8050G - 應用資訊

EPMA-8050G 電子微探儀

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前所未有的空間解析度

超高解析度測繪

在 30,000x 的放大倍率下，進行碳上的 Sn 球測繪分析。即使直徑只有 50 nm，在 SE 影像中可見的 Sn 顆粒 (左)，也能在 X 光影像中精準確認 (右)。

超高靈敏度測繪

在 5,000x 的放大倍率下，以 1 μA 的射束電流進行不鏽鋼測繪分析。(左) 相位的分佈略微不同，可精準記錄 Cr 濃度。(右) 系統成功視覺化 0.1% 以下的 Mn 含量分佈。

無鉛銲錫中的 Ag 和 Cu 分佈

此資料來自含大量 Ag 之無鉛銲錫中的測繪分析區域。(加速電壓：10 kV；射束電流：20 nA) Ag X 光影像中的顆粒形狀，與 BSE 影像 (COMPO) 中的顆粒形狀相符。可明顯看到以紅色虛線指出的直徑約 0.1 μm 顆粒，也是 Ag 顆粒。此外，也確認含 Cu 顆粒存在，如黃色虛線所示。

生物組織中的金屬元素 (DDS)

這項 EPMA 元素造影資料，顯示 (以給藥系統 [DDS]) 送入小鼠頭頸腫瘤組織內的抗癌藥物 carboplatin 中，鉑 (Pt) 成分 (鉑複合體) 存在。透過與癌細胞內遺傳物質 DNA 的雙股結合，carboplatin 可防止細胞分裂 (DNA 複製)，摧毀細胞。元素造影清楚顯示將抗癌藥物送入癌細胞的方式。