SPM-Nanoa - 相關配置
Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
多樣化的擴充功能
可滿足多種要求的功能和擴充性
■ 表示標準規格 □ 表示選配規格
也可透過客製化訂購取得其他規格。如需更多資訊，請聯絡島津。
■Contact Mode
■Dynamic Mode
■Phase Mode
■Lateral Force Mode (LFM)
■Force Modulation Mode
□Current / I-V Mode
□Surface Potential Mode (KPFM)
□Lateral Force Mode (MFM)
■Force Curve
□Nano 3D Mapping Fast
□Piezoelectric Force
Mode (PFM)
□STM
□Vector Scanning
□Observation in Liquid
選配
■ 表示標準規格 □ 表示選配規格
也可透過客製化訂購取得其他規格。如需更多資訊，請聯絡島津。
■HT Scanner
(10 μm x 10 μm x 1 μm)
□Medium-Range Scanner
(30 μm x 30 μm x 5 μm)
□Large-Range Scanner
(125 μm x 125 μm x 7 μm)
□Deep-Type Scanner
(55 μm x 55 μm x 13 μm)
□Small-Range Scanner
(2.5μm x 2.5μm x 0.5μm)
□Fiber Light
□Cross-Sectional View
Sample Holder
□Particle Analysis Software
□Active Vibration Damper
□Active Vibration Damper with a Stand
□Cantilever Mounting Jig
□Static Eliminator
□Computer Table
物理特性
相位模式
此模式透過偵測懸臂振盪的相位偏移延遲，觀察表面黏彈性分佈。
側向力模式 (LFM)
此模式透過偵測懸臂扭轉觀察水平力 (摩擦力)。
力調變模式
此模式透過將懸臂反應分為振幅和相位部分，觀察黏性和彈性分佈。
Nano 3D Mapping™ Fast 選配
這會依據力曲線測量計算樣品表面的彈性模數、吸附力或其他特性，然後觀察這些數值的分佈。
電磁性 (選配)
電流模式
透過偵測流經懸臂的電流，觀察表面的電氣特性。
表面電位模式 (KPFM)
透過偵測作用在懸臂上的靜電力，觀察表面電位。
磁力模式 (MFM)
透過偵測作用在懸臂上的磁力，觀察表面磁力區塊分佈。
壓電力模式 (PFM)
透過偵測對電氣訊號的壓電反應，觀察表面極性分佈。
STM
透過在穿隧電流維持恆定時掃描金屬探針，觀察表面形狀。
切削 (選配)
向量掃描
在這個模式中，可依據使用者指定的掃描設定，例如方向、速度、負荷和施加的電壓，掃描表面。
大氣控制 (選配)
在液體內觀察
接觸、動態和相位模式可用於液相-大氣。